Powrót
Szczegóły ogłoszenia

Aparatura kontrolna i badawcza – Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii

Rozkład cen ofert w tej kategorii

Dysponujemy danymi z 138 rozstrzygniętych postępowań w tej kategorii, wraz z cenami wszystkich złożonych ofert: rozpiętością wycen i udziałem rozstrzygnięć na rzecz najniższej oferty.

Rozkład cen w planie Pro
Szybka ocena
Terminy 30.09.2026 10:00 za 33 dni Składanie ofert
Ostatni dzień na pytania do SWZ 16.09.2026 za 19 dni Termin orientacyjny: wyliczony jako 14 dni przed terminem składania ofert (art. 135 ust. 2 Pzp, postępowanie unijne). Zamawiający mógł ustalić inny - zweryfikuj w SWZ.

Zamawiający Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej
Miasto Warszawa
Region mazowieckie
Numer ogłoszenia 595572-2026
Szacunkowa wartość -
Data publikacji 28.08.2026
Termin składania ofert 30.09.2026 10:00 (zostało 33 dni)
Kody CPV
38500000 Aparatura kontrolna i badawcza
Opis
Opis zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. 1.Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. 2.Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określony został w załączniku nr 2 do SWZ – Opis przedmiotu zamówienia.
Historia zamawiającego

Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej - 12 innych ogłoszeń w bazie (zamówienia, wyniki, plany). Ostatnie 12:

Alerty e-mail
Chcesz wiedzieć o podobnych przetargach, zanim znajdzie je konkurencja?

Załóż darmowe konto i ustaw alert - powiadomimy Cię e-mailem o każdym nowym ogłoszeniu pasującym do Twojej branży. Na start dostaniesz 14 dni planu Pro bezpłatnie, bez karty.

Co jeszcze mamy w tej okolicy
Nie chcesz przeglądać ich ręcznie? Ustaw alert e-mail na tę kategorię - konto zakładasz w 30 sekund.
Podobne ogłoszenia

Inne przetargi, które mogą Cię zainteresować