Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) – Dostawa systemu chromatografii planarnej z automatyczną detekcją i oprogramowaniem na rzecz Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego PAN w Lublinie

1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa systemu chromatografii planarnej z automatyczną detekcją i oprogramowaniem na rzecz Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego PAN w Lublinie. 2. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego: systemu chromatografii planarnej z automatyczną detekcją i oprogramowaniem. Zamawiający wymaga zaoferowania okresu gwarancji na przedmiot zamówienia na minimum 12 miesięcy. Oferty z krótszym okresem gwarancji niż określone powyżej zostaną odrzucone. Uwaga! Okres gwarancji stanowi kryterium oceny ofert zgodnie z rozdziałem XVIII SWZ. 3. Nazwa zamówienia ujęta w tytule zamówienia nie stanowi nazwy własnej producentów/dystrybutorów produktów, lecz jest to oznaczenie wyłącznie pomocnicze zastosowane przez Zamawiającego. 4. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. Przedmiotem zamówienia jest dostawa systemu chromatografii planarnej z automatyczną detekcją i oprogramowaniem na rzecz Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego PAN w Lublinie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. Lp. PARAMETRY WYMAGANE - MINIMALNE WARUNEK 1. System chromatografii planarnej z automatyczną detekcją i oprogramowaniem, składający się z: aparatu do automatycznego nanoszenia próbek, automatycznej komory do rozwijania chromatogramów, automatycznej komory do derywatyzacji, skanera i komputera z oprogramowaniem sterującym oraz akcesoriów koniecznych do współpracy ww. urządzeń i oprogramowania. 1.1 Skaner TLC/HPTLC Warunek konieczny 1.1.1 Pomiar odbicia w trybie absorbancji i fluorescencji. Warunek konieczny 1.1.2 Format obiektu do 200 x 200 mm: płytki szklane, folie aluminiowe i plastikowe. Warunek konieczny 1.1.3 Możliwość rejestracji widma UV-Vis w pełnym zakresie spektralnym. Warunek konieczny 1.1.4 Zakres spektralny nie węższy niż od 190 do 900 nm, z krokiem co 1 nm. Warunek konieczny Kryterium punktowane 1 1.1.5 Źródło światła: Lampa deuterowa (190 – 450 nm) Lampa wolframowa (350 – 900 nm) Lampa rtęciowa – widmo liniowe (254 – 578 nm) Warunek konieczny 1.1.6 Automatyczna zmiana lamp po przekroczeniu danego zakresu. Warunek konieczny 1.1.7 Wbudowane przynajmniej następujące filtry 320 nm, 540 nm , 790 nm zmieniające się automatycznie, filtr odcinający 400 nm do pomiarów we fluorescencji. Co najmniej 3 wolne miejsca na dodatkowe filtry. Warunek konieczny 1.1.8 W pełni automatyczne skanowanie, prędkość skanowania 1-100 mm/s. Warunek konieczny 1.1.9 Prędkość zbierania danych do wykreślenia widma do 100 nm/s. Warunek konieczny 1.1.10 Skanowanie wielokrotną długością fali tej samej płytki z co najmniej 30 różnymi długościami fali. Warunek konieczny 1.1.11 Aparat sterowany komputerowo: oprogramowanie zapewniające analizę ilościową z kalibracją jednopoziomową lub wielopoziomową z regresją liniową lub nieliniową za pomocą standardów wewnętrznych lub zewnętrznych, oznaczanie zanieczyszczeń. Warunek konieczny 1.1.12 Zapisywanie wyników w jednym pliku analizy, a następnie a